Podstawowe parametry techniczne
- Maksymalne napięcie przyspieszające: 200 kV
- Maksymalna rozdzielczość: 0.63 Å
- Możliwości obserwacji w trybie TEM oraz STEM
- Detektory: Bright, Dark Field Detector, High-Angle Annular Dark Field Detector
- Spektroskopia: Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy (EDS), Electron Energy-Loss, Spectroscopy (EELS)
Zakres badań
- Obrazowanie nanostruktur (nanorurki, nanosfery)
- Obrazowanie materiałów półprzewodnikowych
- Analiza składu chemicznego
- Dyfrakcja elektronowa